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產品分類 / PRODUCT
由于X射線熒光光譜儀可以輕松檢測金屬元素,因此常用于檢測產品中的異物以及確定重金屬造成的環(huán)境污染。此外,由于可以一次分析所有可測量的元素,因此非常適合分析成分未知的物質的組成,并廣泛應用于各種研究和調查。
非熟練技術人員也可以使用,并且分析樣品的制備很容易或不需要。 X 射線熒光分析具有許多應用,因為它可以非破壞性、快速且輕松地進行化學分析。
關注速度的分析示例如下。
土壤、工業(yè)廢棄物、回收產品等中含有的有害元素檢測
電子材料及元件中的雜質分析
金屬材料、巖石、礦石、水泥、玻璃等成分分析
植物中金屬、磷、硫等分析
食品和食品容器中的異物或殘留添加劑分析
利用無損分析優(yōu)勢的應用如下。
珠寶、藝術品、文化財產、考古發(fā)掘、證據等鑒定
機場和海關的行李檢查
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